Радиотехника, радиоэлектроника, микро и нано-электроника
Радиоэлектроника — область, охватывающая теорию, методы создания и использования устройств для передачи, приёма и преобразования информации с помощью электромагнитной энергии. Радиоэлектроника охватывает радиотехнику и электронику, в том числе полупроводниковую электронику, микроэлектронику, квантовую электронику, хемотронику, оптоэлектронику, акустоэлектронику и пр. Методы и средства радиоэлектроники находят широкое применение в радиосвязи, системах дистанционного управления, радионавигации, автоматике, радиолокации, в бытовой, военной, космической, вычислительной техниках и др. Область использования радиоэлектроники непрерывно расширяется, проникая в экономику, промышленность, сельское хозяйство, медицину, транспорт и другие сферы человеческой деятельности.
За дополнительной информацией обращаться:
Ведущий специалист Ордынская Марина Юрьевна, ауд. 607-7., тел. +375 17 397-82-95, +375 29 639-65-63,
e-mail: ordinskaya@bsuir.by
Заместитель декана Гарбуз Виталий Борисович, ауд. 402-8., тел. +375 29 686-61-14, e-mail: garbuz@bsuir.by
По направлению «Автоматизация производственных процессов на оборудовании SIEMENS AG» обращаться к Лыч Анне Игоревне, +375(44)5776288.
Запись осуществляется через электронную форму. Обучение начинаются по мере формирования групп, и проводятся на платной основе. Время проведения для слушателей по направлению организаций с 9.00 до 16.00, кроме субботы и воскресенья, для физических лиц - по согласованию.
Тематика по выбору:
1. Компьютерное проектирование и моделирование интегральных микросхем (Computer Aid Design and Modeling of Integrated Circuits).
2. Техника и методология анализа свойств микро- и нанообъектов (Analytical Techniques for Micro- and Nanoobjects).
3. Моделирование атомарного строения, фундаментальных электронных и оптических свойств наноструктур (Simulation of Atomic Arrangements, Fundamental Electronic and Optical Properties of Nanostructures).
4. Теоретические основы наноэлектроники (Fundamentals of Nanoelectronics).
5. Теоретические основы спинтроники (Fundamentals of Spintronics).
6. Золь-гель технологии формирования наноструктурированных материалов и тонких пленок (Sol-Gel Technology for Fabrication of Nanostructured Materials and Thin Films).
7. Формирование и свойства наноструктурированных фотокаталитических материалов для очистки воды (Fabrication and Properties of Nanostructured Photocatalytic Materials for Water Purification).
8. Плазменные методы формирования покрытий (Plasma Technologies for Material Deposition).
9. Методы и устройства визуализации информации (Techniques for Visualization of Information).
Возможна организация стажировок на кафедре.
- Стоимость: 780
- Продолжительность: 72 часов

Основы проектирования функциональных узлов вычислительной техники с применением САПР.
- основы проектирования цифровых устройств на базе HDL;
автоматизированный синтез электрических схем в базисе библиотек проектирования FPGA;
- Продолжительность: 64 часов
Конструирование электронных приборов на интерференционных эффектах. Конструирование электронных приборов на одноэлектронном туннелировании. Конструирование спинтронных приборов. Конструирование оптоэлектронных приборов.
- Продолжительность: 0 часов
Что такое владение современными технологиями проектирования на ПЛИС? Это:
- Продолжительность: 36 часов
Операционная система Linux для встроенных систем.
- Продолжительность: 72 часов
Оптимизация площади, производительности, энергопотребления.
- Продолжительность: 72 часов
Адаптивные фильтры.
- Продолжительность: 36 часов
Моделирование проекта DSP.
- Продолжительность: 72 часов
Моделирование на уровне передачасов.
- Стоимость: 300
- Продолжительность: 40 часов
Рассматриваются теоретические аспекты современных стандартов цифрового телевидения, методы и средстваизмерений, применяемыми в данной отрасли, основные принципы построения цифрового телевизионного передающего оборудования.
Содержание курса:
Тема 1 Модуляция COFDM. Основные принципы (обоснование выбора параметров радиосигналов для НЦТВ, использование ODFM для работы в условиях многолучевости, особенности цифровых видов модуляции, формирование и демодуляцию COFDM-сигналов, обеспечение их помехоустойчивости). Принцип построения одночастотных сетей наземного цифрового телевидения стандарта DVB-T и DVB-T2 в Республике Беларусь
Тема 2 Система наземного цифрового телевизионного вещания DVB-T. Система наземного цифрового телевизионного вещания DVB-T2. Отличия и новшества по отношению к стандарту DVB-T
Тема 3 Структура транспортного потока MPEG-2. Измерение и анализ транспортного потока MPEG-2. Особенности измерения параметров каналов с цифровой модуляцией. Измерения в системах наземного цифрового телевизионного вещания DVB-T и DVB-T2
Тема 4 Структура цифровых телевизионных передатчиков. Линейная, нелинейная коррекция. Схемотехнические решения в построении усилителей мощности цифровых телевизионных передатчиков. Основные контролируемые параметры (на примере передатчиков «ПРОМСВЯЗЬ» РТЦ-2000, РТЦ-1000М). Перспективные разработки и дальнейшее развитие систем наземного цифрового телевизионного вещания
Тема 5 Передающее оборудование для цифрового наземного телевизионного вещания DVB-T, DVB-T2. Регламентируемые и специфические требования к средствам измерений. Измерения основных параметров цифровых телевизионных передатчиков.
- Стоимость: 395
- Продолжительность: 36 часов
Программа, представляет собой курс по волоконно-оптическим системам передачи, их компонентам, методам и средствам измерения, практическую работу по сварке оптического волокна и проводится на базе лаборатории оптических систем. Занятия проводят преподаватели и персонал кафедры инфокоммуникационных технологий. Имеется возможность использования в ходе практических занятий сварочных аппаратов для сварки оптических волокон торговых марок «ILSINTECH», «FUJIKURA» и «FITEL» от сторонних организаций, что не скажется на стоимости обучения.
ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ ЧАСТЬ (ЛЕКЦИИ)
1. Вводная лекция. Цели и задачи дисциплины, её объем и содержание. Предмет и содержание дисциплины. Краткая история развития устройств оптического диапазона. Достоинства и недостатки оптических систем. ГОСТы по терминологии и графическим обозначениям оптических устройств.
2. Основы светового излучения. Характеристики светового излучения, характеристики источников излучения. Обзор лучевой и волновой моделей распространения излучения.
3. Лучевая модель распространения света. Vпараметр. Закон Снеллиуса, виды лучей в ОВ, критический угол, числовая апертура, групповая задержка, конструктивная и деструктивная интерференции, моды и их виды. Многомодовые, одномодовые и градиентные волокна, V параметр.
5. Искажение сигналов в ОВ. Система без искажений, сравнение спектров сигналов в радиочастотном и оптическом диапазонах. Виды искажений. Дисперсия и ее виды. Затухание в ОВ, виды и причины возникновения.
ЛАБОРАТОРНЫЕ ЗАНЯТИЯ
1 Исследование энергетических и пространственных характеристик некогерентных источников оптического излучения и полупроводниковых лазерных диодов. Исследуется ватт-амперная характеристика полупроводникового лазера в ручном и автоматическом режимах измерения пространственной и переходной характеристик.
2 Измерение затухания ОВ методом вносимых потерь. Измеряется затухание ОВ методом вносимых потерь оптическим тестером.
3 Измерение затухания ОВ методом обратного рассеивания. Измеряется затухание ОВ методом обратного рассеивания рефлектометром. Определяются потери в ОВ и разъемах.
4 Измерение затухания в разъёмных и неразъёмных соединениях. Измеряется затухание в разъёмных и неразъёмных соединениях при различных смещениях.
5 Сварка оптических волокон. Соединение оптических волокон при помощи электродуговой сварки.
6 Измерение коэффициента ошибок в линейном оптическом тракте анализатором цифровых трактов. Измерение коэффициента ошибок в линейном оптическом тракте и оценка работоспособности тракта.
7 Измерение коэффициента ошибок в линейном оптическом тракте анализатором цифровых трактов. Изучение параметров оптических интерфейсов передачи (точка S) и приема (точка R), экспериментальное исследование энергетического потенциала волоконно-оптических систем передачи (ВОСП).
8 Измерение коэффициента ошибок в линейном оптическом тракте анализатором цифровых трактов. Изучение и экспериментальное исследование джиттера в ВОСП.
- Стоимость: 350
- Продолжительность: 40 часов