ИНСТИТУТ ИНФОРМАЦИОННЫХ ТЕХНОЛОГИЙ
БЕЛОРУССКОГО ГОСУДАРСТВЕННОГО УНИВЕРСИТЕТА ИНФОРМАТИКИ И РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ
Журавлёв Вадим Игоревич

Журавлёв Вадим Игоревич

кандидат технических наук

Контактная информация
  • Кафедра: Кафедра промышленной электроники
  • Должность: Доцент кафедры

Направления научных исследований:

Методы инженерного анализа конструкций РЭС.

Управление температурным режимом и тепломассообмен в электронной аппаратуре.

 

Основные публикации:

  1. Журавлёв В.И., Колбун В.С., Смирнова Н.А. Пути подготовки специалистов в области CAE-анализа конструкций РЭС.  /  Высшее техническое образование: проблемы и пути развития: материалы VII Международной науч.-метод. конф. (Минск, 20-21 ноября 2014). – Мн.: БГУИР, 2014. – С.168.
  2. Журавлёв В.И., Наумович Е.Н., Колбун В.С. Неоднородный разогрев модулей СВЧ нерегулярной структуры / Международная научно-техническая конференция к 50-летию МРТИ–БГУИР (Минск, 18–19 марта 2014 г.) : материалы конф. В 2 ч. Ч. 1 – С.62-63.
  3. Журавлёв В.И., Кухаренко Е.А. Многоуровневая интеграция слабослышащих студентов в инженерном образовании /  Актуальные проблемы профессионального образования в Республике Беларусь и за рубежом: сб. науч. статей: Ч.1. Витебск: Витебский филиала «МИТСО», 2013  – С.70–72.
  4. V. Zhuravliov, V. Alexeev Critical temperature estimation of heating of semiconductor devices at HEMP actions. / In the book: B. Michel, K.-D. Lang etc.“Smart Systems Integration and Reliability”. – Goldenboden, 2010. – 824 p.
  5. В.И. Журавлёв, В.С. Колбун, Н.А. Смирнова Тепловой анализ печатных плат в Mentor HyperLynx Thermal : метод. указания к лаб. работам по дисциплине «Моделирование и компьютерный анализ РЭС» для студ. cпец. 1-39 02 01 «Моделирование и компьютерное проектирование радиоэлектронных средств» – Минск : БГУИР, 2009. – 30 с.
  6. V.F. Alexeev, V.I. Zhuravliov Modeling of non-stationary heating of semiconductor structures under HEMP actions with short pulse duration. // IEEE Transactions on Device and Materials Reliability. – 2006. – Vol. 6, № 3. – P. 595–601.
  7. V.I. Zhuravliov, V.F. Alexeev  Adequacy checkout of thermal models for degradation prediction of integrated circuits at HEMP action // EMC Europe 2006: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. – Barcelona, Spain, 2006. – P. 221–223.
  8. V.I. Zhuravliov and V.F. Alexeev Failures of integrated circuits due to external EMI action through PCB // XXVI General Assembly of the URSI. – Toronto, Canada, 1999. – P. 315.

Ответственный за дипломное проектирование и преддипломную практику на кафедре по специальности «Промышленная электроника».

Читаемые курсы:

  1. «Проектирования электронных устройств и систем»
  2. «Основы САПР»
  3. «Моделирование электронных устройств».